Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Университет
Университет
ЛЭТИ сегодня
Университет сегодня
Миссия, гимн
Этический кодекс
Федеральные проекты
ЛЭТИ в рейтингах
Фирменный стиль
Руководство
Ректор
Ректорат
Ученый совет
Наблюдательный совет
Структура
История и награды
История
Награды
Почетные звания и знаки
Выдающиеся выпускники
Музей
Кампус
Университетский городок
Карта
Общежития
Нормативные документы
Внутренние распоряжения к опубликованию
Документы к публикации от МОН
Закупки
Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Образование
Образование
Образовательная деятельность
Образовательные программы
Управление образовательной политики
Аспирантура и докторантура
Конкурсы ППС
Наука
Наука
Научная деятельность
Административная структура
Центр трансфера технологий
Центр Молодежного предпринимательства
Основные научно-образовательные направления
Диссертационные советы
Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Инновации
Международная деятельность
ЛЭТИ сегодня
Руководство
Структура
История и награды
Кампус
Нормативные документы
Закупки
Университет сегодня
Миссия, гимн
Этический кодекс
Федеральные проекты
ЛЭТИ в рейтингах
Фирменный стиль
Ректор
Ректорат
Ученый совет
Наблюдательный совет
История
Награды
Почетные звания и знаки
Выдающиеся выпускники
Музей
Университетский городок
Карта
Общежития
Внутренние распоряжения к опубликованию
Документы к публикации от МОН
Образовательная деятельность
Образовательные программы
Управление образовательной политики
Аспирантура и докторантура
Конкурсы ППС
Научная деятельность
Административная структура
Основные научно-образовательные направления
Диссертационные советы
Центр трансфера технологий
Центр Молодежного предпринимательства
Главная
»
Профиль сотрудника
Мокрушина Светлана Андреевна
Занимаемые должности
Старший преподаватель
(каф. ЭП)
Подразделение
Кафедра электронного приборостроения
Электронная почта
samokrushina@etu.ru
Научные идентификаторы
Научный идентификатор (scopusId):
57202112835
Публикации
Александров О. В. Модель поведения МОП-структур при радиационно-термических обработках / О. В. Александров, С. А. Мокрушина // Журнал технической физики. — 2024. — С. 1843–1847. — DOI: 10.61011/jtf.2024.11.59101.234-24. — EDN: YWWGPH.
Год: 2024
Aleksandrov O. V. The Effect of Ionizing Irradiation on the Charge Distribution and Breakdown of MOSFETs / O. V. Aleksandrov, N. S. Tyapkin, S. A. Mokrushina, [и др.] // Semiconductors. — 2022. — Т. 56, № 3. — С. 160–163. — DOI: 10.1134/s1063782622020038. — EDN: YZSVHB.
Год: 2022
Александров О. В. Влияние ионизирующего облучения на распределение зарядов и пробой МОП-транзисторов / О. В. Александров, Н. С. Тяпкин, С. А. Мокрушина, [и др.] // Физика и техника полупроводников. — 2022. — С. 250–253. — DOI: 10.21883/ftp.2022.02.51970.9735. — EDN: WAENJR.
Год: 2022
Aleksandrov O. V. Model of the Effect of the Gate Bias on MOS Structures under Ionizing Radiation / O. V. Aleksandrov, S. A. Mokrushina // Semiconductors. — 2020. — Т. 54, № 2. — С. 240–245. — DOI: 10.1134/s1063782620020025.
Год: 2020
Александров О. Модель влияния смещения затвора при ионизирующем облучении МОП-структур / О. Александров, С. Мокрушина // Физика и техника полупроводников. — 2020. — С. 189–194. — DOI: 10.21883/ftp.2020.02.48902.9195. — EDN: VPCXXB.
Год: 2020
Мокрушина С. Сравнение отклика МОП-транзистора на воздействие рентгеновского и гамма-облучения / С. Мокрушина, Н. Романов // Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника. — 2020. — С. 30–40. — DOI: 10.32603/1993-8985-2020-23-1-30-40. — EDN: ZJTQWS.
Год: 2020
Aleksandrov O. Model for Charge Accumulation in n- and p-MOS Transistors during Tunneling Electron Injection from a Gate / O. Aleksandrov, S. Mokrushina // Semiconductors. — 2018. — Т. 52, № 6. — С. 783–788. — DOI: 10.1134/s1063782618060027.
Год: 2018