Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Университет
Университет
ЛЭТИ сегодня
Университет сегодня
Миссия, гимн
Этический кодекс
Федеральные проекты
ЛЭТИ в рейтингах
Фирменный стиль
Руководство
Ректор
Ректорат
Ученый совет
Наблюдательный совет
Структура
История и награды
История
Награды
Почетные звания и знаки
Выдающиеся выпускники
Музей
Кампус
Университетский городок
Карта
Общежития
Нормативные документы
Внутренние распоряжения к опубликованию
Документы к публикации от МОН
Закупки
Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Образование
Образование
Образовательная деятельность
Образовательные программы
Управление образовательной политики
Аспирантура и докторантура
Конкурсы ППС
Наука
Наука
Научная деятельность
Административная структура
Центр трансфера технологий
Центр Молодежного предпринимательства
Основные научно-образовательные направления
Диссертационные советы
Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Инновации
Международная деятельность
ЛЭТИ сегодня
Руководство
Структура
История и награды
Кампус
Нормативные документы
Закупки
Университет сегодня
Миссия, гимн
Этический кодекс
Федеральные проекты
ЛЭТИ в рейтингах
Фирменный стиль
Ректор
Ректорат
Ученый совет
Наблюдательный совет
История
Награды
Почетные звания и знаки
Выдающиеся выпускники
Музей
Университетский городок
Карта
Общежития
Внутренние распоряжения к опубликованию
Документы к публикации от МОН
Образовательная деятельность
Образовательные программы
Управление образовательной политики
Аспирантура и докторантура
Конкурсы ППС
Научная деятельность
Административная структура
Основные научно-образовательные направления
Диссертационные советы
Центр трансфера технологий
Центр Молодежного предпринимательства
Главная
»
Профиль сотрудника
Серков Антон Валерьевич
Занимаемые должности
Научный сотрудник
(ИСЭФ)
Подразделение
Институт силовой электроники и фотоники
Электронная почта
avserkov@etu.ru
Научные идентификаторы
Научный идентификатор (scopusId):
57189240665
РИДы
Дрейфовый диод с резким восстановлением обратного сопротивления на основе карбида кремния политипа 4H
2024129822 | 2025-03-17
Публикации
Афанасьев А. 4H-SiC-фотодиоды с микронаноструктурированной поверхностью приемной области / А. Афанасьев, В. Забродский, В. Ильин, [и др.] // Физика и техника полупроводников. — 2025. — С. 43–47. — DOI: 10.61011/ftp.2025.01.60499.7633. — EDN: LCNNGJ.
Год: 2025
Афанасьев А. Особенности проектирования 4H-SiC-DMOSFET с различной топологией ячеек / А. Афанасьев, С. Шевченко, П. Афанасьев, [и др.] // Электроника и микроэлектроника СВЧ. — 2025. — С. 357. — EDN: ATGCIA.
Год: 2025
Афанасьев А. Электрическая характеризация силовых карбидокремниевых MOSFET с линейным и гексагональным дизайном базовых ячеек / А. Афанасьев, П. Афанасьев, В. Ильин, [и др.] // Известия высших учебных заведений России. Радиоэлектроника. — 2025. — С. 54–65. — DOI: 10.32603/1993-8985-2025-28-5-54-65. — EDN: FHQCHO.
Год: 2025
Afanasev A. V. Application of RIE-Technology to Control Responsivity of 4H-SiC Photodiodes / A. V. Afanasev, V. Zabrodskiy, V. Ilyin, [и др.] // Semiconductors. — 2023. — Т. 57, № 11. — С. 469–473. — DOI: 10.1134/s1063782623080018.
Год: 2023
Ilyin V. Silicon-Carbide Epitaxial Structures for Betavoltaic Converters / V. Ilyin, A. V. Afanasyev, V. V. Luchinin, [и др.] // Nanobiotechnology Reports. — 2022. — Т. 17. — С. S56–S60. — DOI: 10.1134/s2635167622070096.
Год: 2022
Афанасьев А. В. О формировании низкоомных контактов для биполярных приборов на основе 4H-SiC / А. В. Афанасьев, В. А. Ильин, В. В. Лучинин, [и др.] // Физика и техника полупроводников. — 2022. — С. 607–610. — DOI: 10.21883/ftp.2022.06.52598.9827. — EDN: WSMYQD.
Год: 2022
Афанасьев А. В. Применение технологии реактивного ионно-плазменного травления для управления чувствительностью 4H-SiC-фотодиодов / А. В. Афанасьев, В. В. Забродский, В. А. Ильин, [и др.] // Физика и техника полупроводников. — 2022. — С. 997–1001. — DOI: 10.21883/ftp.2022.10.53962.9926. — EDN: DRMDUC.
Год: 2022
Ильин В. А. Карбидокремниевые эпитаксиальные структуры для бета-вольтаических преобразователей / В. А. Ильин, А. В. Афанасьев, В. В. Лучинин, [и др.] // Нано- и микросистемная техника. — 2021. — С. 312–316. — DOI: 10.17587/nmst.23.312-316. — EDN: UXGNYP.
Год: 2021