Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Университет
Университет
ЛЭТИ сегодня
Университет сегодня
Миссия, гимн
Этический кодекс
Федеральные проекты
ЛЭТИ в рейтингах
Фирменный стиль
Руководство
Ректор
Ректорат
Ученый совет
Наблюдательный совет
Структура
История и награды
История
Награды
Почетные звания и знаки
Выдающиеся выпускники
Музей
Кампус
Университетский городок
Карта
Общежития
Нормативные документы
Внутренние распоряжения к опубликованию
Документы к публикации от МОН
Закупки
Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Образование
Образование
Образовательная деятельность
Образовательные программы
Управление образовательной политики
Аспирантура и докторантура
Конкурсы ППС
Наука
Наука
Научная деятельность
Административная структура
Центр трансфера технологий
Центр Молодежного предпринимательства
Основные научно-образовательные направления
Диссертационные советы
Поступающим
Студентам
Сотрудникам
Инновации
Международная деятельность
ЛЭТИ сегодня
Руководство
Структура
История и награды
Кампус
Нормативные документы
Закупки
Университет сегодня
Миссия, гимн
Этический кодекс
Федеральные проекты
ЛЭТИ в рейтингах
Фирменный стиль
Ректор
Ректорат
Ученый совет
Наблюдательный совет
История
Награды
Почетные звания и знаки
Выдающиеся выпускники
Музей
Университетский городок
Карта
Общежития
Внутренние распоряжения к опубликованию
Документы к публикации от МОН
Образовательная деятельность
Образовательные программы
Управление образовательной политики
Аспирантура и докторантура
Конкурсы ППС
Научная деятельность
Административная структура
Основные научно-образовательные направления
Диссертационные советы
Центр трансфера технологий
Центр Молодежного предпринимательства
Главная
»
Профиль сотрудника
Клонов Владимир Валерьевич
Занимаемые должности
Ассистент
(каф. ЭПУ)
Инженер
(каф. ЭПУ)
Подразделение
Кафедра электронных приборов и устройств
Электронная почта
vvklonov@etu.ru
Научные идентификаторы
Научный идентификатор (scopusId):
57195148614
РИДы
Программа управления макетом сканирующего электронного микроскопа («EMControl»)
2024684967 | 2024-10-23
Программа тестирования сенсорных дисплеев для томографических систем («DisplayModuleTest»)
2022682468 | 2022-11-22
Программа ПЛИС для управления для сбора данных с ПЗС линейки («CCD_DSPEPU»)
2021668674 | 2021-12-01
Программа управления блоками реле и концевых датчиков («RSCGU»)
2019666013 | 2019-12-19
Программа для коммуникации с рентгеновским аппаратом («X-ray communication»)
2019665599 | 2019-12-12
Программа для сбора данных с высокоскоростного прибора с зарядовой связью («CCDcontrol»)
2019665279 | 2019-12-06
Программа для контроля качества точечных сварных соединений («WeldingPoints»)
2018664213 | 2018-12-25
Программа для работы с портативным пультом управления малогабаритным рентгеновским аппаратом для ветеринарии («EmbeddedXRay»)
2018664221 | 2018-12-25
Программа для управления малогабаритным рентгеновским аппаратом для ветеринарии («AnimalXray»)
2018663889 | 2018-12-18
Программа для визуализации результатов томографических исследований («MicroCT-Vis»)
2018661478 | 2018-11-19
Программа для выполнения томографической реконструкции с использованием технологии CUDA («TomoRecServer»)
2018662093 | 2018-11-19
Программа для визуализации результатов томографических исследований («MicroCT-Rec»)
2018662145 | 2018-11-15
Программа управления динамическим детектором рентгеновского излучения («MTLViewer»)
2017663475 | 2018-02-15
Программа управления многофункциональной рентгеновской установкой («NDScan»)
2017663476 | 2018-02-15
Программа для вычисления эффективной дозы облучения пациентов (XRayRadiationDose)
2017610095 | 2017-03-03
Программа управления системой перемещения томографической установки (TomoControl)
2014661255 | 2015-01-12
Публикации
Бессонов В. Разработка метода коррекции металлических артефактов при томографических исследованиях / В. Бессонов, В. Клонов, И. Ларионов, [и др.] // Физические основы приборостроения. — 2020. — С. 54–59. — DOI: 10.25210/jfop-2004-054059. — EDN: YNYWTS.
Год: 2020
Потрахов Н. Н. Установки для рентгеновского контроля (обзор) / Н. Н. Потрахов, В. Б. Бессонов, А. В. Ободовский, [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. — 2019. — С. 35–42. — DOI: 10.26896/1028-6861-2019-85-10-35-42. — EDN: JMDCBR.
Год: 2019