Исследование и разработка методов повышения точности контроля толщины пленок с использованием рентгенофлуоресцентного анализа
Направление 11.06.01 ЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОТЕХНИКА И СИСТЕМЫ СВЯЗИ
Направленность 05.27.02 - Вакуумная и плазменная электроника | 2025
Исследование и разработка методов повышения электрической прочности источников
Направление 12.06.01 ФОТОНИКА, ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, ОПТИЧЕСКИЕ
И БИОТЕХНИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ И ТЕХНОЛОГИИ
Направленность 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы | 2025
Исследование и разработка фоточувствительной аппаратуры на основе КМОП-структур
2.2.1. Вакуумная и плазменная электроника | 2028
Исследование точностных характеристик малогабаритного многофункционального рентгеновского дифрактомера
2.2. Электроника, фотоника, приборостроение и связь
2.2.1. Вакуумная и плазменная электроника | 2029
Разработка методов и средств повышения характеристик микрофокусных источников рентгеновского излучения
Направление 11.06.01 ЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОТЕХНИКА И СИСТЕМЫ СВЯЗИ
Направленность 05.27.02 - Вакуумная и плазменная электроника | 2025
